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論文

Void fraction effects on stability in cable-in-conduit conductor for varying field due to plasma disruption

寺沢充水; 三浦友史; 安藤俊就; 野沢正信*; 礒野高明; 高谷芳幸*; 辻博史; 島本進

ICEC16/ICMC Proceedings, p.1265 - 1268, 1996/00

Void率が32、36、40%とそれぞれ異なるITER用Nb $_{3}$ SnのCIC縮小導体を製作し、ITERのoperation中、プラズマ・ディスラプションによって引き起こされる磁界変化に対する安定度を実験的に評価した。実験の結果、ITER用導体はプラズマ・ディスラプションによって引き起こされると想定される磁界変化に対して安定であることが推測された。